Ngày 27/2, Hitachi tuyên bố đã phát triển một công nghệ phát hiện lỗi bán dẫn có độ nhạy cao, giúp nhận diện các vi lỗi có kích thước 10nm hoặc nhỏ hơn nhờ sự hỗ trợ của máy học. Công nghệ này đã được giới thiệu tại hội nghị học thuật SPIE Advanced Lithography & Patterning 2025 vào cuối tháng 2...